UNE-EN 60749-14:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 14: Robustez de los terminales (integridad de los conectores).

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 14: Robustesse des sorties (intégrité des connexions)