UNE-EN 60749-17:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons