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UNE-EN IEC 60749-34-1:2025 (Ratificada)

UNE-EN IEC 60749-34-1:2025 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34-1: Ensayo de ciclos de potencia para módulos semiconductores de potencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2025.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Española de Normalización in September of 2025.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 34-1: Essai de cycles en puissance pour modules de puissance à semiconducteurs (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en septembre 2025.)

Ratification date:
2025-09-01 /Vigente
International equivalences:

EN IEC 60749-34-1:2025 (Identical)

IEC 60749-34-1:2025 (Identical)

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