UNE-EN 60749-38:2008 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de ensayo del error transitorio para dispositivos semiconductores con memoria. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2008.)

Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)

Dispositifs a semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 38: Méthode d'essai des erreurs logicielles pour les dispositifs à semiconducteurs avec mémoire (Entérinée par l’AENOR en septembre 2008.)