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Standard
UNE-EN 60749-36:2004

UNE-EN 60749-36:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 36: Aceleración constante.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 36: Accélération constante

Publication Date:
2004-03-18 /Vigente
International equivalences:

EN 60749-36:2003 (Identical)

IEC 60749-36:2003 (Identical)

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