Skip main navigation
Standard
UNE-EN 60444-3:1997 (Ratificada)

UNE-EN 60444-3:1997 (Ratificada)

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 3: Método básico para la medida de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz por la técnica en fase en los circuitos en pi con compensación de la capacidad paralela Co. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance C0

Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 3: Méthode fondamentale pour la mesure des paramètres à deux pôles des résonateurs à quartz à la fréquence jusqu'à 200 MHz par la technique de phase dans le circuit en pi avec compensation de la capacité parallèle C0

Cancellation date:
2023-10-05
Ratification date:
1997-10-01 /Anulada
International equivalences:

EN 60444-3:1997 (Identical)

IEC TR 60444-3:1986 (Identical)

IEC 444-3:1986 (Identical)

Buy on AENOR

This standard is available in:

Print and digital format

English