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Standard
ISO 3497:2000

ISO 3497:2000

Metallic coatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods

Revêtements métalliques — Mesurage de l'épaisseur du revêtement — Méthodes par spectrométrie de rayons X

Date:
2000-12-21 / Published
Committee:
ISO/TC 107 - Metallic and other inorganic coatings
Relación con otras normas ISO:

Anula a: ISO 3497:1990

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