UNE-EN 60749-9:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9: Permanence du marquage