UNE-EN 60749-2:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión atmosférica.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 2: Basse pression atmosphérique.