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Standard
UNE-EN IEC 60749-10:2022 (Ratificada)

UNE-EN IEC 60749-10:2022 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2022.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mécaniques - Dispositif et sous-ensemble (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en juillet 2022.)

Ratification date:
2022-07-01 /Vigente
International equivalences:

EN IEC 60749-10:2022 (Identical)

IEC 60749-10:2022 (Identical)

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