Skip main navigation
Standard
ISO 22493:2008

ISO 22493:2008

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary

Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Vocabulaire

Fecha Anulación:
2008-09-19 / Withdrawn
Committee:
ISO/TC 202/SC 1 - Terminology
Relación con otras normas ISO:

Es anulada por: ISO 22493:2014

Buy on AENOR

This standard is available in:

Digital format

Ingles / Frances